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永続的識別子

info:ndljp/pid/3065398

タイトル

高分子の部分放電劣化と群小部分放電に関する研究

著者

石田隆弘 [著]

出版年月日

1993

請求記号

UT51-93-D147

書誌ID（国立国会図書館オンラインへのリンク）

000000257482

DOI

10.11501/3065398

公開範囲

インターネット公開（許諾）

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資料種別 (materialType)

Book

---

Manuscript

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DoctoralDissertation

タイトル (title)

高分子の部分放電劣化と群小部分放電に関する研究

タイトルよみ (titleTranscription)

コウブンシ ノ ブブン ホウデン レッカ ト グンショウ ブブン ホウデン ニ カンスル ケンキュウ

著者 (creator)

石田隆弘 [著]

著者標目 (creator:NDLNA)

石田, 隆弘

著者標目よみ (creatorTranscription:NDLNA)

イシダ, タカヒロ

出版年月日(W3CDTF形式) (issued:W3CDTF)

1993

フォーマット(IMT形式) (format:IMT)

image/jp2

内容記述 (description)

博士論文

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博士論文

授与大学名 (degreeGrantor)

豊橋技術科学大学

授与大学名よみ (degreeGrantorTranscription)

トヨハシ ギジュツ カガク ダイガク

博論報告番号 (dissertationNumber)

乙第45号

授与年 (dateGranted)

平成5年3月10日

学位 (degreeName)

博士 (工学)

永続的識別子 (identifier:NDLJP)

info:ndljp/pid/3065398

URL (identifier:URI)

https://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/3065398

DOI (identifier:DOI)

10.11501/3065398

NDL請求記号 (callNumber)

UT51-93-D147

原資料のNDL書誌ID (sourceIdentifier:NDLBibID)

000000257482

NDLC (subject:NDLC)

UT51

コレクション情報 (type:collection)

博士論文

デジタル化出版者 (digitizedPublisher)

国立国会図書館

提供者 (provider)

大規模デジタル化（博士論文）

提供制限 (accessRights)

インターネット公開

公開範囲 (rights)

インターネット公開（許諾）

階層レベル (type:biblevel)

0

サムネイルURL (thumbnailUrl:thumbnailUrl)

https://dl.ndl.go.jp/titleThumb/info:ndljp/pid/3065398

サムネイルファイル名 (thumbnailFileName:thumbnailFileName)

000000257482thumb.jpg

作成者典拠ID (creator:NDLNAId)

01193907

出版地（国名コード） (publicationPlace:ISO3166)

JP

授与大学 (degreeGrantor:JISX0408)

0085

目次 (tableOfContents)

論文要旨 / p1 (0003.jp2)

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目次 / p1 (0006.jp2)

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第1章 序論 / p1 (0008.jp2)

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1.1 本研究の目的と背景 / p1 (0008.jp2)

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1.2 本論文の概要 / p3 (0009.jp2)

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1.3 参考文献 / p4 (0010.jp2)

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第2章 本研究に関するこれまでの研究 / p6 (0011.jp2)

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2.1 まえがき / p6 (0011.jp2)

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2.2 部分放電現象 / p6 (0011.jp2)

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2.3 部分放電による劣化 / p12 (0014.jp2)

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2.4 部分放電の検出法 / p17 (0016.jp2)

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2.5 試験方法 / p22 (0019.jp2)

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2.6 参考文献 / p28 (0022.jp2)

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第3章 部分放電特性解析システム / p33 (0024.jp2)

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3.1 まえがき / p33 (0024.jp2)

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3.2 部分放電検出 / p33 (0024.jp2)

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3.3 部分放電特性解析システムの計測･計算処理 / p41 (0028.jp2)

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3.4 部分放電特性諸量の算出 / p43 (0029.jp2)

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3.5 放電群小率の導入 / p49 (0032.jp2)

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3.6 参考文献 / p52 (0034.jp2)

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第4章 針状ボイド試料の部分放電特性 / p54 (0035.jp2)

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4.1 まえがき / p54 (0035.jp2)

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4.2 試料 / p55 (0035.jp2)

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4.3 実験方法 / p56 (0036.jp2)

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4.4 実験結果 / p57 (0036.jp2)

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4.5 検討 / p61 (0038.jp2)

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4.6 まとめ / p65 (0040.jp2)

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4.7 参考文献 / p66 (0041.jp2)

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第5章 開放ボイド試料の部分放電特性 / p67 (0041.jp2)

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5.1 まえがき / p67 (0041.jp2)

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5.2 試料 / p68 (0042.jp2)

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5.3 実験方法 / p70 (0043.jp2)

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5.4 実験結果 / p71 (0043.jp2)

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5.5 検討 / p75 (0045.jp2)

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5.6 まとめ / p76 (0046.jp2)

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5.7 参考文献 / p77 (0046.jp2)

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第6章 模擬表面劣化の電極依存性 / p79 (0047.jp2)

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6.1 まえがき / p79 (0047.jp2)

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6.2 試料 / p79 (0047.jp2)

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6.3 実験方法 / p81 (0048.jp2)

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6.4 実験結果 / p82 (0049.jp2)

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6.5 検討 / p86 (0051.jp2)

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6.6 まとめ / p88 (0052.jp2)

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6.7 参考文献 / p89 (0052.jp2)

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第7章 模擬表面劣化試料の部分放電特性 / p90 (0053.jp2)

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7.1 まえがき / p90 (0053.jp2)

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7.2 試料 / p90 (0053.jp2)

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7.3 実験方法 / p92 (0054.jp2)

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7.4 実験結果 / p92 (0054.jp2)

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7.5 検討 / p95 (0055.jp2)

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7.6 まとめ / p97 (0056.jp2)

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7.7 参考文献 / p98 (0057.jp2)

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第8章 総轄 / p100 (0058.jp2)

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8.1 本研究により得られた知見 / p101 (0058.jp2)

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8.2 今後の課題と問題点 / p105 (0060.jp2)

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8.3 参考文献 / p106 (0061.jp2)

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謝辞 / p107 (0061.jp2)

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本研究に関する業績 / p108 (0062.jp2)

URL

https://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/3065398